使用成像共聚焦顯微鏡對增材制造表面形貌的穩(wěn)健測量

作者： 納奇斯維拉爾 ， 羅杰阿蒂加斯 ，森索法技術， S . L .（西班牙）；馬蒂 Duocastella ，大學。德巴塞羅那（西班牙）；吉列姆·卡萊斯·桑塔卡納，森索法爾技術公司（西班牙）

2023年6月27日·北京時間10點50分至11點10分|國際會議中心14c室

Narcis Vilar的論文介紹了一種用于測量增材制造（AM）零件表面紋理的優(yōu)化光學系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有寬視場和高數(shù)值孔徑，可應對表面不規(guī)則性和反射率變化帶來的挑戰(zhàn)。將市售目鏡與定制設計的管狀鏡頭集成可實現(xiàn)放大率和適用于AM零件特征的有效數(shù)值口徑。 該系統(tǒng)采用共焦式HiLo技術，并成功地表征了金屬AM部件。還討論了提高性能潛力的顯微鏡物鏡的設計。此外，使用高動態(tài)范圍（HDR）的方法，結合多個低動態(tài)范圍圖像，使重建一個單一的地形圖，以解決反射率的變化。總體而言，本文證實了這種光學系統(tǒng)，其廣泛的空間特征覆蓋范圍和HDR能力，提供了一個多功能的解決方案，適用于各種科學和工業(yè)方面。

光學輪廓術中掃描非線性的計算自校正  

作者： 萊娜朱科娃 ， 羅杰阿蒂加斯 ，吉勒姆卡萊斯桑塔卡納，Sensofar-Tech， S . L .（西班牙）

2023年6月27日· 12：30 - 12：50歐洲中部時間|ICM房間14 c

另一方面， Lena Zhukova 的論文重點關注一種減少使用電動線性平臺進行掃描的光學輪廓儀中非線性的計算方法。 通過分析由已知位移分離的兩個地形圖（可從單次掃描中提?。?，該算法預測并消除定位系統(tǒng)誤差，顯著提高測量精度。這種的解決方案為解決電動線性載物臺中的非線性問題提供了一種實用而有效的方法，擴大了光學輪廓測量在各個行業(yè)和研究領域的適用性。

SPIE 光學計量學以展示光子學及相關技術的前沿進展而聞名，為 維拉爾 和 朱可娃 提供了一個理想的平臺，與全球科學界分享他們的前沿研究。Sendix贊揚他們的杰出貢獻，并期待他們的工作將對計量領域產生深遠影響 。 .