探索 Sensofar 白光干涉儀開啟微觀測量新篇 在科研與工業(yè)制造邁向精密化的當下,微觀世界的精確測量愈發(fā)關鍵。Sensofar 白光干涉儀,憑借前沿技術與精心設計,成為諸多領域探索微觀奧秘、把控產(chǎn)品質量的得力伙伴。
產(chǎn)品細節(jié):精巧設計,操作便利
Sensofar 白光干涉儀造型緊湊,不占過多空間,可輕松適配各類實驗與生產(chǎn)環(huán)境。儀器外觀線條流暢,盡顯工藝美感。其操作界面簡潔直觀,功能按鍵布局合理,即便是初次接觸的使用者,也能迅速熟悉操作流程,高效開展測量工作。設備的樣品臺設計精妙,能夠穩(wěn)固承載不同形狀與尺寸的樣品,同時支持靈活調整,確保樣品處于優(yōu)良測量位置。
產(chǎn)品性能:多元技術,穩(wěn)定可靠
這款儀器融合共聚焦顯微鏡與白光干涉測量等多種技術。共聚焦模式在應對高陡坡、不透明或高反射率樣品時表現(xiàn),可清晰捕捉復雜表面的細微結構。白光干涉模式則在光滑表面測量方面優(yōu)勢,能夠提供縱向分辨率,特別適用于光學薄膜、半導體晶圓等超精密檢測場景。兩種模式可根據(jù)樣品特性自動切換或協(xié)同使用,極大地拓展了儀器的適用范圍,確保在不同樣品上都能獲取精準的測量數(shù)據(jù)。并且,設備在運行過程中展現(xiàn)出良好的穩(wěn)定性,受外界環(huán)境干擾影響較小,為測量結果的可靠性提供有力保障。
用材講究:品質之選,耐用持久
Sensofar 白光干涉儀在選材上極為用心。核心光學部件選用高品質光學玻璃,具備出色的透光性與低色散特性,能有效減少光線傳播過程中的能量損失與圖像畸變,確保測量成像的清晰度與準確性。儀器內部的機械結構采用高強度、耐腐蝕的金屬材料,不僅保證了設備整體的穩(wěn)固性,還顯著提升了其抗磨損能力,即便長期處于高頻使用狀態(tài),也能維持良好的性能,延長設備的使用壽命,降低用戶的使用成本。
型號多樣,參數(shù)豐富
以旗艦產(chǎn)品 S neox 為例,其橫向分辨率可達 0.14μm,縱向精度更是突破 0.1nm,能夠精準識別極其微小的表面特征變化。設備支持多種放大倍數(shù)物鏡切換,滿足不同尺寸樣品與測量精度需求。同時,具備快速掃描功能,可在短時間內完成大面積樣品的測量工作,顯著提升檢測效率。此外,Sensofar 還有適用于不同應用場景的其他型號產(chǎn)品,如用于工業(yè)在線檢測的 Sonix 系統(tǒng),憑借高速攝像頭與優(yōu)化光學設計,將測量速度提升至傳統(tǒng)干涉系統(tǒng)數(shù)倍,且在保持高垂直分辨率的同時,實現(xiàn)了對大批量生產(chǎn)產(chǎn)品的實時質量監(jiān)控。
廣泛用途:多領域大顯身手
在半導體制造領域,Sensofar 白光干涉儀發(fā)揮著至關重要的作用。它能夠精確檢測晶圓表面粗糙度、薄膜厚度均勻性以及蝕刻工藝后的臺階高度,為芯片制造的良品率提供堅實保障。例如在 5G 通信用碳化硅基晶圓制備過程中,借助儀器的白光干涉模式,可量化晶體生長的均勻性,有效避免因表面缺陷引發(fā)的芯片性能衰減問題。在光學鏡片生產(chǎn)中,可用于檢測透鏡、反射鏡等元件的表面瑕疵,如劃痕、凹坑、污染以及面形誤差,確保光學元件的成像質量。在消費電子零部件檢測方面,對于手機玻璃蓋板、陶瓷背板等部件的表面粗糙度與缺陷測量,能夠滿足產(chǎn)線 100% 全檢的嚴格要求,通過高速掃描與 AI 缺陷分類技術,實現(xiàn)實時質量控制,提升產(chǎn)品品質。
使用說明:規(guī)范操作,保障效果
初次使用 Sensofar 白光干涉儀時,需仔細檢查設備外觀有無損壞,各部件連接是否牢固。將儀器放置在平穩(wěn)、無振動的工作臺上,并確保工作環(huán)境溫度、濕度適宜。連接好電源及相關配件后,開啟設備進行預熱,待設備穩(wěn)定后,依據(jù)樣品特性選擇合適的測量模式與參數(shù)。放置樣品時,務必小心輕放,避免損傷樣品與儀器樣品臺。測量過程中,密切關注儀器運行狀態(tài),如發(fā)現(xiàn)圖像異常、測量數(shù)據(jù)波動過大等情況,應立即停止測量,排查故障原因。測量完成后,及時關閉設備電源,清理樣品臺,并定期對儀器進行清潔與維護,確保設備始終處于良好的工作狀態(tài)。
Sensofar 白光干涉儀憑借其出色的設計、穩(wěn)定的性能、豐富的功能以及廣泛的適用性,為科研工作者與工業(yè)生產(chǎn)者提供了可靠的微觀測量解決方案,助力各行業(yè)在精密測量領域不斷突破,邁向新的高度。探索 Sensofar 白光干涉儀開啟微觀測量新篇