布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀包含多個(gè)型號(hào)，常見的有Explorer系列和Contour系列。Explorer系列注重靈活性和擴(kuò)展性，支持多種附件和自定義配置；Contour系列側(cè)重于自動(dòng)化和大批量測(cè)量，適合工業(yè)環(huán)境。布魯克白光干涉輪廓儀型號(hào)與參數(shù)詳解

主要參數(shù)包括：垂直分辨率通常為0.1納米至1納米，橫向分辨率取決于物鏡，范圍在0.3微米到10微米之間。掃描速度可達(dá)每秒數(shù)微米至數(shù)百微米，具體取決于測(cè)量模式和精度設(shè)置。視場(chǎng)大小隨物鏡變化，從0.1毫米到10毫米不等。

儀器結(jié)構(gòu)采用鋁合金框架，重量較輕且剛性較好。光學(xué)部件使用石英玻璃和抗反射涂層，提高透光率和耐用性。電源模塊符合國際安全標(biāo)準(zhǔn)，適應(yīng)100-240V電壓輸入。

該產(chǎn)品用于精密制造、科研實(shí)驗(yàn)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。例如，在汽車工業(yè)中，可用于發(fā)動(dòng)機(jī)部件表面磨損分析；在 academia，支持材料表面研究。使用前需進(jìn)行開機(jī)校準(zhǔn)，通過軟件向?qū)瓿沙跏荚O(shè)置。測(cè)量過程中，用戶可選擇自動(dòng)或手動(dòng)模式，軟件實(shí)時(shí)顯示三維形貌圖像和數(shù)據(jù)曲線。

維護(hù)方面，建議定期檢查光學(xué)路徑清潔度和機(jī)械部件潤(rùn)滑情況。長(zhǎng)期停用時(shí)，需覆蓋防塵罩并存儲(chǔ)于干燥環(huán)境中。

在材料方面，儀器基座采用阻尼材料以減少外部振動(dòng)，光學(xué)組件安裝在溫度穩(wěn)定性較高的結(jié)構(gòu)上，降低熱脹冷縮帶來的誤差。樣品臺(tái)通常由不銹鋼制成，表面經(jīng)過防腐蝕處理，適合多種環(huán)境使用。

該產(chǎn)品提供多種型號(hào)，例如標(biāo)準(zhǔn)型、高速型和高分辨率型，滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景的需求。標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)適用于常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，而高速型號(hào)適合生產(chǎn)線上的快速檢測(cè)。高分辨率型號(hào)則針對(duì)科研領(lǐng)域，提供更細(xì)致的表面細(xì)節(jié)捕捉。

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀通過白光干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)高分辨率表面測(cè)量。其性能特點(diǎn)包括良好的重復(fù)性和適應(yīng)性，能夠處理不同反射率的樣品，從高反光金屬到透明薄膜均可測(cè)量。

設(shè)備采用LED白光光源，壽命較長(zhǎng)且光譜穩(wěn)定，有利于保持測(cè)量的一致性。干涉鏡頭內(nèi)置參考鏡，通過壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器實(shí)現(xiàn)納米級(jí)精度的掃描移動(dòng)。系統(tǒng)內(nèi)置振動(dòng)補(bǔ)償算法，減少環(huán)境干擾對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

在材料方面，儀器基座采用阻尼材料以減少外部振動(dòng)，光學(xué)組件安裝在溫度穩(wěn)定性較高的結(jié)構(gòu)上，降低熱脹冷縮帶來的誤差。樣品臺(tái)通常由不銹鋼制成，表面經(jīng)過防腐蝕處理，適合多種環(huán)境使用。

該產(chǎn)品提供多種型號(hào)，例如標(biāo)準(zhǔn)型、高速型和高分辨率型，滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景的需求。標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)適用于常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，而高速型號(hào)適合生產(chǎn)線上的快速檢測(cè)。高分辨率型號(hào)則針對(duì)科研領(lǐng)域，提供更細(xì)致的表面細(xì)節(jié)捕捉。

用途廣泛，包括MEMS器件測(cè)量、涂層厚度分析、磨損表面檢測(cè)等。使用時(shí)需注意環(huán)境光線控制，避免強(qiáng)光直射干擾測(cè)量。軟件提供多種分析工具，如粗糙度計(jì)算、體積分析和輪廓對(duì)比，幫助用戶全面評(píng)估表面特性。布魯克白光干涉輪廓儀型號(hào)與參數(shù)詳解