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三維光學(xué)輪廓儀
BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克白光干涉輪廓儀干涉儀材料與應(yīng)用場(chǎng)景
布魯克白光干涉輪廓儀干涉儀材料與應(yīng)用場(chǎng)景布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀的外部殼體采用工程塑料和金屬?gòu)?fù)合材料,平衡重量和防護(hù)性。
產(chǎn)品分類(lèi)
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀的外部殼體采用工程塑料和金屬?gòu)?fù)合材料,平衡重量和防護(hù)性。內(nèi)部光學(xué)模塊包含氟化鈣透鏡和硅基探測(cè)器,減少色差和提高信噪比。移動(dòng)部件使用陶瓷軸承,耐磨且運(yùn)行平穩(wěn)。布魯克白光干涉輪廓儀干涉儀材料與應(yīng)用場(chǎng)景
應(yīng)用場(chǎng)景覆蓋工業(yè)與科研:在電子行業(yè),用于PCB板焊點(diǎn)高度測(cè)量;在生物領(lǐng)域,適合細(xì)胞膜表面形貌觀察;此外,還可用于藝術(shù)品保護(hù)中的表面老化監(jiān)測(cè)。
設(shè)備運(yùn)行需連接電腦安裝專(zhuān)用軟件,支持Windows和Linux系統(tǒng)?;静僮髁鞒贪ǔ跏蓟布?、選擇測(cè)量程序、執(zhí)行掃描和分析數(shù)據(jù)。對(duì)于復(fù)雜形狀樣品,可啟用三維拼接功能獲取完整表面信息。
參數(shù)表中,典型型號(hào)的測(cè)量精度在納米級(jí)別,重復(fù)性誤差小于1%。環(huán)境要求為溫度15-30攝氏度,濕度低于80%。電源功耗較低,符合節(jié)能標(biāo)準(zhǔn)。
使用中應(yīng)注意避免碰撞光學(xué)組件,長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量建議間歇休息以防止過(guò)熱。通過(guò)掌握基本操作技巧,用戶(hù)可充分發(fā)揮儀器性能,滿(mǎn)足多樣化的表面分析需求。
儀器采用非接觸測(cè)量方式,無(wú)需噴涂或處理樣品,但對(duì)于透明或低反射率表面,可調(diào)整光源強(qiáng)度或使用增強(qiáng)對(duì)比度選項(xiàng)。軟件提供自動(dòng)聚焦功能,也可手動(dòng)微調(diào)以確保干涉條紋清晰。
數(shù)據(jù)采集完成后,軟件自動(dòng)生成高度圖和相位圖,用戶(hù)可進(jìn)行濾波、拼接和統(tǒng)計(jì)分析。報(bào)告導(dǎo)出格式包括PDF、CSV和圖像文件,便于后續(xù)處理或存檔。
注意事項(xiàng):避免在強(qiáng)振動(dòng)或溫度波動(dòng)較大的環(huán)境中使用。測(cè)量高反光樣品時(shí),可降低光源強(qiáng)度以防止過(guò)曝。日常維護(hù)包括用軟布清潔鏡頭和校準(zhǔn)參考鏡。每年建議由專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行系統(tǒng)校驗(yàn),以保持測(cè)量一致性。
該設(shè)備在光伏產(chǎn)業(yè)、薄膜技術(shù)和微加工中有較多應(yīng)用,如太陽(yáng)能電池表面檢測(cè)或光學(xué)鍍膜質(zhì)量評(píng)估。通過(guò)合理使用,可提升檢測(cè)效率和數(shù)據(jù)可靠性。布魯克白光干涉輪廓儀干涉儀材料與應(yīng)用場(chǎng)景
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