澤攸 ZEM20：兼顧效率與細(xì)節(jié)的電鏡

產(chǎn)品簡介

澤攸 ZEM20：兼顧效率與細(xì)節(jié)的電鏡
適用于電子器件失效分析、生物樣品的超微結(jié)構(gòu)觀察等領(lǐng)域。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-08-22

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：60

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺式電鏡&臺階儀&原位分析

澤攸澤攸臺式掃描電鏡澤攸臺階儀澤攸探針臺及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

澤攸臺階儀從納米臺階到微納制造的“精密標(biāo)尺”

澤攸臺階儀：精密測量的科技先鋒

司特爾金相制樣技術(shù)：精確材料分析的基礎(chǔ)

只需幾秒鐘即可完成圖像采集、記錄和共享

詳細(xì)介紹在線留言

澤攸電鏡 ZEM20 在設(shè)計上注重平衡測量效率與成像質(zhì)量，其電子槍采用 LaB6 燈絲，較傳統(tǒng)鎢燈絲具有更高的亮度和更長的使用壽命，在相同加速電壓下能獲得更清晰的圖像。

加速電壓可在 1 - 20kV 范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，束流穩(wěn)定度優(yōu)于 2%/h，確保長時間觀察時圖像質(zhì)量的一致性。分辨率方面，二次電子像在 30kV 下可達(dá) 3.0nm，背散射電子像為 5.0nm，能滿足多數(shù)材料的納米級結(jié)構(gòu)分析需求。澤攸 ZEM20：兼顧效率與細(xì)節(jié)的電鏡

樣品臺采用高精度步進(jìn)電機驅(qū)動，移動范圍為 X/Y ±5mm，Z 軸調(diào)節(jié)范圍 10mm，定位精度達(dá) 1μm，可實現(xiàn)樣品的精準(zhǔn)定位與多區(qū)域觀察。設(shè)備配備數(shù)字成像系統(tǒng)，圖像采集速度達(dá) 15 幀 / 秒，支持實時觀察與快速存儲。

用材上，鏡筒內(nèi)部關(guān)鍵部件采用無氧銅材質(zhì)，經(jīng)特殊工藝處理減少雜散磁場干擾；真空系統(tǒng)由機械泵與分子泵組成，抽氣時間短，從大氣到工作真空（≤5×10??Pa）約需 8 分鐘。

使用說明中明確了操作步驟：開機預(yù)熱 30 分鐘后，加載樣品并抽真空，待真空達(dá)標(biāo)后設(shè)置加速電壓與放大倍數(shù)，通過搖桿控制樣品臺移動至觀察區(qū)域即可成像。適用于電子器件失效分析、生物樣品的超微結(jié)構(gòu)觀察等領(lǐng)域。澤攸 ZEM20：兼顧效率與細(xì)節(jié)的電鏡

上一個：澤攸電鏡 ZEM15：微觀探索的可靠伙伴