澤攸多功能電鏡的實(shí)用之選

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澤攸多功能電鏡的實(shí)用之選
澤攸電鏡以多功能性滿足多樣化研究需求，其集成了掃描電鏡（SEM）通過更換樣品臺(tái)與探測(cè)器即可實(shí)現(xiàn)不同模式的切換。

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更新時(shí)間：2025-08-25

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析

澤攸澤攸臺(tái)式掃描電鏡澤攸臺(tái)階儀澤攸探針臺(tái)及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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澤攸電鏡以多功能性滿足多樣化研究需求，其集成了掃描電鏡（SEM通過更換樣品臺(tái)與探測(cè)器即可實(shí)現(xiàn)不同模式的切換。

作為 SEM 使用時(shí)，加速電壓 5 - 50kV，二次電子分辨率 2.0nm；切換至 TEM 模式后，可對(duì)薄樣品進(jìn)行觀察，點(diǎn)分辨率達(dá) 0.2nm，晶格分辨率 0.14nm。設(shè)備配備高角度環(huán)形暗場(chǎng)探測(cè)器（HAADF），能通過原子序數(shù)襯度成像，清晰觀察納米顆粒的分布。澤攸多功能電鏡的實(shí)用之選

機(jī)械結(jié)構(gòu)采用大理石底座，有效吸收外界振動(dòng)，保證高倍成像時(shí)的穩(wěn)定性。電子光學(xué)系統(tǒng)的透鏡采用無磁材料制造，減少磁場(chǎng)對(duì)電子束的干擾。參數(shù)表中顯示，其最大樣品傾斜角為 60°，適合進(jìn)行動(dòng)態(tài)原位觀察，如材料在拉伸過程中的微觀結(jié)構(gòu)變化。

參數(shù)方面，放大倍數(shù) 200 - 2,000,000 倍，樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn) ±30° 傾斜與 360° 旋轉(zhuǎn)，便于觀察樣品的立體結(jié)構(gòu)。使用時(shí)，通過軟件可聯(lián)動(dòng)控制電鏡與 EDS 系統(tǒng)，一鍵完成成像與成分分析的切換。

在航空航天材料檢測(cè)中，可用于分析渦輪葉片的氧化層成分；在地質(zhì)研究中，能識(shí)別礦物顆粒中的微量元素分布，為多領(lǐng)域研究提供微觀結(jié)構(gòu)與成分的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。

使用說明強(qiáng)調(diào)了模式切換的操作規(guī)范：更換樣品臺(tái)時(shí)需關(guān)閉電子槍，待真空破壞后進(jìn)行操作，重新抽真空至規(guī)定值方可繼續(xù)工作。適用于跨學(xué)科研究，如在新能源領(lǐng)域，既能觀察電池電極的表面形貌，又能分析電極材料的晶體結(jié)構(gòu)。澤攸多功能電鏡的實(shí)用之選

上一個(gè)：澤攸深入材料內(nèi)部的探索者