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臺式電鏡&臺階儀&原位分析
澤攸臺式掃描電鏡
澤攸電鏡高分辨成像與原位實驗的融合者
澤攸電鏡高分辨成像與原位實驗的融合者在材料動態(tài)行為研究領(lǐng)域,傳統(tǒng)電鏡難以兼顧高分辨率成像與實時實驗監(jiān)測的需求。
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澤攸電鏡高分辨成像與原位實驗的融合者
在材料動態(tài)行為研究領(lǐng)域,傳統(tǒng)電鏡難以兼顧高分辨率成像與實時實驗監(jiān)測的需求。澤攸科技推出的ZEM20Pro臺式掃描電鏡,通過集成原位拉伸、加熱與電學(xué)測量模塊,為科研人員提供了多維度的分析解決方案。
ZEM20Pro搭載單晶燈絲電子源,分辨率達(dá)4納米(20kV電壓下),支持36萬倍極限放大。其真空分隔技術(shù)將電子槍與樣品倉獨立抽真空,換樣時間縮短至1分鐘以內(nèi),顯著提升實驗效率。設(shè)備內(nèi)置高清攝像頭,可實時記錄樣品在原位實驗中的形變過程。
燈絲材料:單晶鎢燈絲壽命長達(dá)1500小時,降低耗材更換頻率。
原位附件:可選配拉伸臺(最大載荷50N)、加熱臺(最高溫度1000℃)或TEC冷臺(溫度-30℃),適配不同實驗需求。
軟件系統(tǒng):配套分析軟件支持圖像拼接、三維重構(gòu)與數(shù)據(jù)導(dǎo)出,簡化后期處理流程。
參數(shù)項 | ZEM20Pro |
---|---|
分辨率 | 4nm@20kV(SE模式) |
加速電壓 | 1kV-30kV(連續(xù)可調(diào)) |
原位功能 | 拉伸/加熱/電學(xué)測量 |
數(shù)據(jù)接口 | USB 3.0+千兆以太網(wǎng) |
兼容性 | 支持EDS能譜儀擴(kuò)展 |
金屬疲勞研究:通過原位拉伸臺觀察裂紋萌生與擴(kuò)展過程,結(jié)合EDS分析氧化層成分變化。
電池材料開發(fā):在加熱臺上模擬充放電循環(huán)中的電極膨脹現(xiàn)象,評估材料熱穩(wěn)定性。
二維材料表征:利用冷臺凍結(jié)液相反應(yīng)中間態(tài),捕捉石墨烯剝離或MoS?層間滑移的動態(tài)圖像。
實驗設(shè)計:根據(jù)樣品特性選擇合適的原位附件,提前校準(zhǔn)載荷傳感器或溫度探頭。
成像優(yōu)化:在低倍率下定位感興趣區(qū)域,逐步放大至目標(biāo)倍數(shù),避免電子束長時間照射導(dǎo)致樣品損傷。
數(shù)據(jù)管理:采用“實驗?zāi)0?功能保存常用參數(shù)設(shè)置,提高重復(fù)性實驗的效率。
ZEM20Pro通過模塊化設(shè)計與智能化軟件,將高分辨成像與原位實驗無縫銜接,為材料動態(tài)行為研究提供了全新的技術(shù)路徑。
澤攸電鏡高分辨成像與原位實驗的融合者
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