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澤攸臺式掃描電鏡
澤攸電鏡如何匹配您的科研需求
澤攸電鏡如何匹配您的科研需求面對ZEM系列四款型號,用戶如何根據(jù)自身需求選擇適合的設備?本文從分辨率、功能擴展與預算三個維度提供決策參考。
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澤攸電鏡如何匹配您的科研需求
面對ZEM系列四款型號,用戶如何根據(jù)自身需求選擇設備?本文從分辨率、功能擴展與預算三個維度提供決策參考。
ZEM15:基礎教學優(yōu)選
分辨率:15納米,滿足金屬晶粒度分析等基礎需求。
成本:100萬元,適合預算有限的實驗室。
局限:無BSE探測器與低真空模式,對不導電樣品需噴金處理。
ZEM15C:工業(yè)檢測利器
分辨率:10納米,可觀測納米顆粒團聚現(xiàn)象。
效率:2分鐘快速抽真空,支持批量樣品檢測。
場景:半導體缺陷篩查、粉末材料粒度分布統(tǒng)計。
ZEM18:材料研究多面手
分辨率:8納米,可分辨陶瓷晶界相。
功能:低真空模式直接觀測聚合物或生物樣品。
擴展:可選配EDS能譜儀進行元素面掃描。
ZEM20:科研平臺
分辨率:4納米,接近場發(fā)射電鏡水平。
原位:支持拉伸、加熱與電學測量,研究材料動態(tài)行為。
兼容:可集成EBSD衍射系統(tǒng)分析晶體取向。
預算敏感型用戶:優(yōu)先選擇ZEM15或ZEM15C,平衡性能與成本。
多場景應用需求:ZEM18的低真空與EDS擴展功能覆蓋80%常規(guī)研究。
前沿課題探索:ZEM20的原位實驗能力為動態(tài)機制研究提供關鍵數(shù)據(jù)。
高校材料學院:采購ZEM15C用于本科生實驗教學,同時配備ZEM20供研究生開展鋰離子電池電極膨脹研究。
半導體企業(yè):引入ZEM18進行芯片封裝材料分析,利用ZEM20的原位加熱功能模擬焊接工藝中的界面反應。
地質研究所:選擇ZEM18的低真空模式直接觀測未噴金的巖石薄片,結合EDS分析礦物元素組成。
耗材費用:鎢燈絲單價約2000元,六硼化鑭燈絲單價約8000元,ZEM20的單晶燈絲壽命更長。
維護費用:分子泵維修成本高于機械泵,ZEM15/ZEM15C采用無油真空系統(tǒng)降低長期支出。
升級空間:ZEM18與ZEM20預留EDS/EBSD接口,便于未來功能擴展。
通過系統(tǒng)性對比與場景化分析,用戶可精準定位符合自身需求的ZEM系列電鏡型號,實現(xiàn)科研投入的回報。
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