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激光干涉儀
ZYGO光學(xué)輪廓儀
ZYGO三款光學(xué)輪廓儀對比
ZYGO三款光學(xué)輪廓儀對比Nexview™ NX2是專為大規(guī)模集成電路(IC)、復(fù)合半導(dǎo)體和微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)晶圓的無損檢測而設(shè)計(jì)的3D光學(xué)輪廓儀。它解決了大尺寸樣品在高精度下全自動(dòng)測量的挑戰(zhàn)。
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ZYGO三款光學(xué)輪廓儀對比
ZYGO的ZeGage Pro、NewView 9000和Nexview NX2均基于成熟的CSI技術(shù),但在設(shè)計(jì)理念和應(yīng)用定位上各有側(cè)重,為用戶提供了不同層次的選擇。
定位與設(shè)計(jì)對比:
ZeGage Pro:定位為便捷式解決方案。一體式設(shè)計(jì)使其開箱即可使用,減少了復(fù)雜的配置過程,適合空間有限的生產(chǎn)線或需要快速部署的實(shí)驗(yàn)室。
NewView 9000:定位為靈活可擴(kuò)展的研發(fā)級平臺(tái)。模塊化設(shè)計(jì)允許用戶根據(jù)未來需求升級系統(tǒng)功能,適用于多變的研究和開發(fā)環(huán)境。
Nexview NX2:定位為專用型在線檢測系統(tǒng)。其一切設(shè)計(jì)都圍繞處理大尺寸晶圓和實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化檢測,專為半導(dǎo)體制造流程優(yōu)化。
性能與用途對比:
三款儀器在核心測量能力(垂直分辨率、精度)上均表現(xiàn)出色,但擴(kuò)展性和專長不同。
ZeGage Pro:覆蓋從光滑到粗糙表面的常規(guī)測量需求,勝任日常質(zhì)檢。
NewView 9000:通過更換物鏡和添加模塊,可應(yīng)對更廣泛的樣品類型和更復(fù)雜的分析任務(wù),如薄膜應(yīng)力。
Nexview NX2:專注于半導(dǎo)體行業(yè),其價(jià)值體現(xiàn)在全自動(dòng)、大批量的晶圓處理和分析能力上,速度和自動(dòng)化可靠性是關(guān)鍵。
選擇建議:
用戶應(yīng)根據(jù)自身的樣品尺寸、通量要求、檢測環(huán)境(實(shí)驗(yàn)室或產(chǎn)線)以及未來需求來選擇。對于常規(guī)質(zhì)檢,ZeGage Pro可能更為經(jīng)濟(jì)高效;對于前沿研發(fā),NewView 9000提供更多可能性;而對于半導(dǎo)體產(chǎn)線,Nexview NX2則是經(jīng)過市場驗(yàn)證的專業(yè)選擇。
ZYGO三款光學(xué)輪廓儀對比
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