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三維光學(xué)輪廓儀
布魯克
ContourX-500布魯克三維光學(xué)輪廓儀使用指南
布魯克三維光學(xué)輪廓儀使用指南布魯克ContourX-500三維光學(xué)輪廓儀通過(guò)白光干涉技術(shù),為表面測(cè)量提供了一種解決方案。其設(shè)計(jì)兼顧了實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)場(chǎng)景的需求,可用于多種材料的形貌表征。
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布魯克三維光學(xué)輪廓儀使用指南
布魯克ContourX-500三維光學(xué)輪廓儀是一款基于白光干涉原理的測(cè)量設(shè)備,適用于表面形貌的三維重建。以下內(nèi)容介紹其結(jié)構(gòu)、性能及操作方法。
產(chǎn)品結(jié)構(gòu)包括光學(xué)系統(tǒng)、機(jī)械平臺(tái)和電子控制部分。光學(xué)系統(tǒng)采用Michelson干涉光路,配備可調(diào)光圈和濾光片輪,適應(yīng)不同樣品反射率。機(jī)械平臺(tái)采用絲杠驅(qū)動(dòng),移動(dòng)精度為0.1μm,帶有振動(dòng)隔離設(shè)計(jì)。電子控制單元管理數(shù)據(jù)采集和運(yùn)動(dòng)控制,通過(guò)USB接口與計(jì)算機(jī)通信。
材料選擇上,外殼為冷軋鋼板噴涂處理,內(nèi)部支架采用鋁合金,光學(xué)部件安裝在鑄鐵基座上以減少熱變形。樣品夾具有磁性固定和夾具固定兩種方式。
性能參數(shù):
垂直測(cè)量范圍:5mm
橫向分辨率:取決于物鏡,最高0.35μm
重復(fù)性:<0.5% (@1σ)
掃描速度:可調(diào),最大0.5mm/s
數(shù)據(jù)點(diǎn)間距:0.1μm至10μm可設(shè)
參數(shù)表:
型號(hào):ContourX-500
測(cè)量原理:白光干涉
物鏡:標(biāo)配10X,可選其他
平臺(tái)移動(dòng)范圍:100mm x 100mm
重量:約40kg
電源:AC 220V, 50Hz
軟件:Vision64
用途覆蓋微加工表面檢測(cè)、涂層均勻性評(píng)估、摩擦學(xué)研究和微流體通道測(cè)量。在學(xué)術(shù)研究和工業(yè)檢測(cè)中均有應(yīng)用。
使用說(shuō)明:開(kāi)機(jī)后預(yù)熱10分鐘,啟動(dòng)軟件并初始化系統(tǒng)。選擇測(cè)量程序,設(shè)置掃描范圍和步長(zhǎng)。進(jìn)行光強(qiáng)校準(zhǔn)和背景校正,放置樣品后開(kāi)始測(cè)量。數(shù)據(jù)可導(dǎo)出為CSV或圖像格式。每月建議檢查光路對(duì)齊和軌道潤(rùn)滑。
ContourX-500的設(shè)計(jì)考慮了用戶(hù)操作的便利性,適合長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量任務(wù)。
布魯克三維光學(xué)輪廓儀使用指南
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